1. Chip) testing for plug and play test automation /-a-on-SOC (System
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Digital electronics ; Testing ; Plug and play (Computer architecture) ; Systems on a chip ;
2. Constraint-based verification
پدیدآورنده : Yuan, Jun
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع : ، Constraints )Artificial intelligence(,Testing ، Digital electronics,Testing ، Electronic systems,Design and construction ، Electronic systems
رده :
QA
340
.
Y92C6
3. Constraint-based verification
پدیدآورنده : Yuan, Jun.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی همدان (همدان)
موضوع : ، Constraints )Artificial intelligence(,Testing ، Digital electronics,Testing ، Electronic systems,Design and construction ، Electronic systems
رده :
Q
340
.
Y83
4. Design and test of digital circuits by quantum-dot cellular automata
پدیدآورنده : Fabrizio Lombardi, Jing Huang, editors
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه بين المللی امام خمينی (ره) قزوين (قزوین)
موضوع : Quantum dots,Digital electronics- Design and construction,Digital electronics- Testing,Nanoelectronics,Cellular automata,Quantum computers
رده :
TK
.
D47
7874
.
88
2008
5. Diagnosis & reliable design of digital systems
پدیدآورنده : Breuer, Melvin A
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Digital electronics , Electronic apparatus and appliances - Testing , Electronic circuit design
رده :
TK
7868
.
D5
B73
6. Digital logic testing and simulation
پدیدآورنده : Miczo, Alexander
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Digital electronics-- Testing
رده :
TK
7868
.
D5
.
M49
1986
7. Digital logic testing and simulation
پدیدآورنده : Miczo, Alexander.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Testing ، Digital electronics
رده :
TK
7868
.
D5
M49
2003
8. Digital logic testing and simulation
پدیدآورنده : Miczo, Alexander
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing ، Digital electronics
رده :
TK
7868
.
D5
M49
1987
9. Digital logic testing and simulation
پدیدآورنده : / Alexander Miczo
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Digital electronics- Testing
رده :
TK7868
.
D5
,
M49
2003
10. Digital logic testing & simulation
پدیدآورنده : MICZO,ALEXANDER
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : DIGITAL ELECTRONICS-TESTING
رده :
TK
7868
.
D5
M49
11. Digital test engineering
پدیدآورنده : J. Max Cortner
موضوع : Digital electronics,Electronic apparatus and appliances - Testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
12. Digital test engineering
پدیدآورنده : Cortner, J. Max.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Digital electronics,Testing ، Electronic apparatus and appliances
رده :
TK
7868
.
D5
C67
1987
13. Equivalence checking of digital circuits: fundamentals, principles, methods
پدیدآورنده : Molitor, Paul.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Digital electronics-- Testing
رده :
TK
7868
.
D5
.
M617
2004
14. TESTING DIGITAL CIRCUITS:AN INTRODUCTION
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : DIGITAL ELECTRONICS-TESTING,INTEGRATED CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
،
7868
،.
D5
,
W54
15. Testability of electronic circuits
پدیدآورنده : Weyerer, Manfred.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Electronic circuits- Testing,، Digital electronics- Testing,، Electronic circuit design
16. Testability of electronic circuits
پدیدآورنده : Manfred Weyerer and Gerald Goldemund ; translated by Klaus Selke
موضوع : Electronic circuits - Testing,Digital electronics - Testing,Electronic circuit design
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
17. Testing digital circuits: an introduction
پدیدآورنده : Wilkins, B.R.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing ، Digital electronics
رده :
TK
7868
.
D5
W5
1986
18. Testing digital circuits:an introduction
پدیدآورنده : WILKINS,B R
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : DIGITAL ELECTRONICS-TESTING , INTEGRATED CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
7868
.
D5
W54